SEM

Microscopio Electrónico de Barrido De Emisión de Campo

Cuenta con una fuente de emisión de campo de hasta 30kV en un sistema de alto vacío con un generador de barrido de 5120X3840 pixeles. Y una resolución de 1 nm a 15kV teniendo la capacidad de variar su voltaje incluso a 100V ofreciendo a esete voltaje una resolución de 1.5nm. El trabajo en este voltaje abre las posibilidades de observación de material biológico y una gama de polímeros que con otro tipo de instrumentos es imposible de observar. Incluye un detector de electrones retrodispersos haciendo posible mezcla de señales con electrones secundarios en la misma imagen. 


Este sistema ofrece un modo llamado por Jeol Gentel Beam GB™ que permite tener un campo electrostático alrededor de la muestra provocando que los electrones incidentes puedan tener flujo para descarga y es de gran utilidad para la observación de muestras sin necesidad de recubrimiento conductor.


También está instalada la espectroscopía de electrones dispersos (EDS) en modo puntual, lineal y mapeo.



Microscopio Electrónico de Barrido
SEM Jeol 7600F



Partículas de Silicio con nanopartículas de Au, utilizando BSE y sin recubrimiento de oro.


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