Utilizando como fuente de iluminación un emisor de campo de 200kV de aceleración, alcanza una resolución de 1.89Å. Además de los tradicionales modos de imagen y difracción en modo TEM también cuenta con una unidad STEM (Scanning Transmission Electron Microscope) donde es posible realizar μ-μ difracción, nano difracción, un detector de EDS para análisis elemental, una apertura de HAADF (high angle annular dark field) para obtener imágenes por contraste de número atómico. Uno de los aditamentos más exclusivos que tiene este equipo es el Filtro de energía post-column, asociado como un prisma energético nos ofrece la posibilidad analítica a nivel atómico. Donde es posible realizar análisis de EFTEM-SI, EELS en modo espectro o incluso mapeo sobre áreas variables adquiriendo incluso hasta 3000 espectros en un campo definido.

Además de lo anteriormente descrito se cuentan con dos portamuestras, uno de calentamiento hasta 800°C y otro de enfriamiento que puede alcanzar una temperatura de -160°C. 

Teniendo la oportunidad de grabar en video las transformaciones de fase por temperatura in situ. O más allá, para materiales que solamente a bajas temperaturas son sólidas y tener así el ambiente para poder observarlas. 

Para la adquisición de imágenes el microscopio cuenta una CCD post columna de 11 MPixeles y una CCD lateral de amplio rango dinámico que permite específicamente la adquisición de patrones de difracción por tiempos prolongados y sin riesgo de daño en el sensor, su resolución es de 4 MPixeles.