Antraceno con C60
Esferas de Si y NPs de Au, sin recubrimiento conductor
Sección transversal de nanotubos de Titanio
Análisis de falla en polibutadieno
Punta de fractura en copolímero en bloque PB-PS
Proteínas
Película de Ag
Esferas de ANTRACENO, EELS posterior confirmó C60
Filtro de Cerámica, detalle del perímetro exterior
Filtro de cerámica. Izquierda modo BSE Derecha modo SE
EDS sección transversal de un filtro de cerámica
Circuitos electrónicos
Conidio, esporas
Cabeza de mosca, colores digitales
Ala de luciérnaga. Colores digitales
ala de luciérnaga, en rojo un ácaro sobrepuesto
Ablación LASER sobre Silicio
Patrón de difracción de Va
Patrón de difracción Al
Campo claro de NPs de Cu, Medición de planos atómicos
Campo claro y campo obscuro de la misma partícula
Contraste Z Nps Cu y CuO, distinguiéndolas mediante EELS
EFTEM-SI método de 3 ventanas en proteina C 284eVy S 165eV
Espectros de EEL de C
Análisis de EDS en catalizadores
Nanotubos de Vanadio
Nanopartículas de Au
Polímero P-NIPAM
Polímero Polibutadieno 50 000X
Polímero con partículas tipo cápsula
Polímero CON PARTÍCULAS DE CORE-SHELL 100,000X
Granos de una película delgada de Ag 100 000X
CoPolímero en bloque Polibutadieno-Poliestireno
Crecimiento de película delgada de Au
Responsable del Laboratorio Central de Microscopía Electrónica de la UAM-I desde 1996. Dando apoyo desde la preparación de muestras inorgánicas y orgánicas, hasta la observación y análisis espectroscópicos disponibles en el laboratorio. Atendiendo los equipos mismos así como sus instalaciones.
Cualquier inquietud podemos estar en contacto por cualquier medio.
patycastillo@gmail.com