




Antraceno con C60

Esferas de Si y NPs de Au, sin recubrimiento conductor

Sección transversal de nanotubos de Titanio

Análisis de falla en polibutadieno

Punta de fractura en copolímero en bloque PB-PS

Proteínas

Película de Ag

Esferas de ANTRACENO, EELS posterior confirmó C60

Filtro de Cerámica, detalle del perímetro exterior

Filtro de cerámica. Izquierda modo BSE Derecha modo SE

EDS sección transversal de un filtro de cerámica

Circuitos electrónicos

Conidio, esporas

Cabeza de mosca, colores digitales

Ala de luciérnaga. Colores digitales

ala de luciérnaga, en rojo un ácaro sobrepuesto

Ablación LASER sobre Silicio

Patrón de difracción de Va

Patrón de difracción Al

Campo claro de NPs de Cu, Medición de planos atómicos

Campo claro y campo obscuro de la misma partícula

Contraste Z Nps Cu y CuO, distinguiéndolas mediante EELS

EFTEM-SI método de 3 ventanas en proteina C 284eVy S 165eV

Espectros de EEL de C

Análisis de EDS en catalizadores


Nanotubos de Vanadio

Nanopartículas de Au

Polímero P-NIPAM

Polímero Polibutadieno 50 000X

Polímero con partículas tipo cápsula

Polímero CON PARTÍCULAS DE CORE-SHELL 100,000X

Granos de una película delgada de Ag 100 000X

CoPolímero en bloque Polibutadieno-Poliestireno

Crecimiento de película delgada de Au

Responsable del Laboratorio Central de Microscopía Electrónica de la UAM-I desde 1996. Dando apoyo desde la preparación de muestras inorgánicas y orgánicas, hasta la observación y análisis espectroscópicos disponibles en el laboratorio. Atendiendo los equipos mismos así como sus instalaciones.
Cualquier inquietud podemos estar en contacto por cualquier medio.
patycastillo@gmail.com